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百欧林 16年7月19日

欢迎参加我们关于薄膜性质和KSV NIMA的讨论

欢迎参加我们关于薄膜性质和KSV NIMA的讨论!

希望您不要错过7月25日到29日在芬兰举行的第十六届国际有序分子薄膜会议(ICOMF16)-LB16.

欢迎前来参观我们届时设立的KSV NIMA展台,和我们一起探讨测量薄膜粘弹性分子取向,化学成分以及薄膜可视化的最新方法

我们将带来KSV NIMA系列的全部产品,包括市场领先的KSV NIMA Langmuir(L)和Langmuir-Blodgett (LB)膜分析仪,以及一系列的表征工具:KSV NIMA ISR(界面剪切流变仪), PM-IRRAS(界面红外反射吸收光谱), BAM(布鲁斯特角显微镜), MicroBAM(小型布鲁斯特角显微镜)  和SPOT(表面电位测量仪)。

KSV NIMA是本次大会赞助商

如果您想要了解关于KSV NIMA的更多信息,请参阅:

KSV NIMA-全球应用最广的Langmuir、Langmuir-Blodgett槽和薄膜表征系统;

了解关于薄膜制备和表征技术的更多信息;

阅读我们的博客获得更多的启发。

 

祝您 工作愉快!

百欧林科技团队

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