KSV NIMA表面电位测量仪（SPOT）用于确定Langmuir膜中的分子取向变化。 与所有KSV NIMA Langmuir和Langmuir-Blodgett膜分析仪中包含的表面压力传感器一起，可以深入了解Langmuir单分子层相互作用。

应用概述

  • 确定分子取向：通过观察表面电位的变化并将数据与表面压力信息相结合，SPOT可提供关于分子取向的信息。
  • Langmuir层相互作用的深入观察：单独的表面等温线无法分离表面压力变化的原因。 结合SPOT，从薄膜收集的数据加倍，可深入了解薄膜。
  • 确定有效偶极矩：使用传感器，通过压缩膜的简单表面电位测量来确定有效偶极矩。
  • 薄膜电子结构表征：通过测量表面电位的变化可以检测到分子电子结构的微小变化。
  • 分子结构表征：通过位置偏移和表面电位图的峰值来量化分子结构变化的影响。
  • 复杂成膜过程监测：观察并追踪单分子层、亚相物质或被吸附物之间的复杂成膜过程。

特点与优势

  • 数据量加倍- 全部集中在一个软件中：KSV NIMA表面电位测量仪使用KSV NIMA LB软件进行操作，不需要任何其他软件。 表面压力和表面电位都自动绘制在同一图表中以进行简单比较。
  • 准确和可重复的测量：非接触式和非破坏性的振动平板电容器法可确保出色的精度和可重复性。
  • 设置简单：KSV NIMA表面电位测量仪可直接连接到KSV NIMA L和LB膜分析仪的界面单元。 它可以通过简单的即插即用操作轻松安装。 该测量仪具有灵活的支架，可与膜分析仪快速轻松集成。 此外，测量仪出厂时已经过校准，可以快速启动。

产品细节

KSV NIMA表面电位测量仪测量薄膜上下的电位差，对所有单个偶极矩之和非常灵敏。 表面电位的变化是通过检测位于单分子层上方的振动板和浸入单分子层下面的亚相中的对电极之间的电位差来测量的。

该测量仪可以补偿从Langmuir和Langmuir-Blodgett膜分析仪获得的表面压力等温线测量数据。 它可用于测定界面处的单分子层组成、分子取向、分子解离度和分子相互作用。

建议KSV NIMA表面电位测量仪与KSV NIMA Langmuir，Langmuir-Blodgett或显微镜槽一起使用，以实现表面电压和表面电位的组合测量。 SPOT也可通过KSV NIMA界面单元与其他槽一起配合使用。

[KSV NIMA 技术指标]

应用实例

抗寄生虫肽与细胞膜模型的相互作用

在药物开发中，药物通过细胞壁渗透入细胞以及药物在细胞膜内的反应是药物效率的重要因素。这个例子展示的是在体外的模型细胞膜中研究人类非洲睡眠疾病（HAT）的候选药物。

基于寡肽的药物S-（2,4-二硝基苯基）谷胱甘肽二-2-丙酯在HAT的治疗中显示出活性。DPPC（二棕榈酰磷酸胆碱）是一种丰富的脂质原生动物膜，采用Langmuir构建了DPPC单分子层模型膜， 使用具有表面电位计和偏振调制表面红外反射吸收光谱仪的Langmuir设备研究药物本身的单分子层特性及其与DPPC单分子层的相互作用。

HAT药物单分子层在空气-缓冲液界面处的表面压力面积和表面电势面积等温线。

如需更多信息，请查阅Resources

应用文摘-生物分子在细胞膜模型中的相互作用

参考文献

  1. Pascholati et al., ‘Colloids and Surfaces B: Biointerfaces’ 74 (2009) 504–510
  2. Kim et al., ‘J of American Chemical Society’ (2010), 132, pp. 8180-8186
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