薄膜表征设备

MicroBAM（布鲁斯特角显微镜）可以对单分子层进行可视化，通常在Langmuir槽的气-水界面上使用。

KSV NIMA表面电位测量仪（SPOT）用于确定Langmuir膜中的分子取向变化。 与所有KSV NIMA Langmuir和Langmuir-Blodgett膜分析仪中包含的表面压力传感器一起，可以深入了解Langmuir单分子层相互作用。