椭偏测量仪测量吸附在表面的材料的干质量，而QCM-D测量的是吸附材料与耦合在其结构内的溶剂的共同质量，即所谓的湿质量。

产品简介

QCM-D还可以检测吸附膜内的结构变化。因此，这两种技术的结合可以定量得到薄膜中溶剂的含量，也可以严格区分由溶剂吸收/释放或构象变化(如交联)引起的结构变化。

QSense® Explorer 椭偏系统配备了一个椭偏模块，该模块提供了一个进入QCM-D传感器表面的外部椭偏光学入口。它有一个复杂的流动模式，用于确保控制芯片表面的流量，因此与标准的QSense® Explorer相比，它配备了一个不同的泵。

QSense® Explorer椭偏模块需要一个单独的椭圆偏振仪。如需获得有关椭偏仪兼容性的建议，请与我们联系。

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